透射电子显微镜主要用于地质样品、材料的高分辨形貌观察和微区的晶体结构分析。日本电子株式会社（JEOL）的JEM-F200场发射透射电子显微镜具有智能化设计、全自动进样操作以及先进的扫描系统等优点。系统由电子光学系统、高压系统、真空系统等部分组成，可以在极短时间内得到高分辨率的图像观察。同时，结合配备的高灵敏度能谱仪可以实现快速的成分分析。